Study on fatigue life of gun latch based on orthogonal test method

نویسندگان

چکیده

Abstract Aiming at the problem of fatigue damage gun latch caused by long-term impact load, life was studied. Firstly, finite element model established using method. Secondly, static strength and were calculated based on S-N curve Miner’s linear accumulation theory. On this basis, structural factors affecting bolt analyzed, four including radial diameter latch, axial bearing thickness spiral Angle support surface tail surface, locking clearance between set up, as well three variation levels each factor. Then, nine groups latches simulated orthogonal test In addition, range analysis method used to analyze simulation results, then influence law degree factor obtained. Moreover, optimal combination scheme structure parameters determined comprehensive balance method, carried out verify latch. The results show that maximum stress decreases 21.5% 28.2%, is lower than yield limit material. At same time, research also shows minimum increases greatly, body 20.8 times before test, 102.1 test. provide a reference for design

برای دانلود رایگان متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

study of hash functions based on chaotic maps

توابع درهم نقش بسیار مهم در سیستم های رمزنگاری و پروتکل های امنیتی دارند. در سیستم های رمزنگاری برای دستیابی به احراز درستی و اصالت داده دو روش مورد استفاده قرار می گیرند که عبارتند از توابع رمزنگاری کلیددار و توابع درهم ساز. توابع درهم ساز، توابعی هستند که هر متن با طول دلخواه را به دنباله ای با طول ثابت تبدیل می کنند. از جمله پرکاربردترین و معروف ترین توابع درهم می توان توابع درهم ساز md4, md...

application of upfc based on svpwm for power quality improvement

در سالهای اخیر،اختلالات کیفیت توان مهمترین موضوع می باشد که محققان زیادی را برای پیدا کردن راه حلی برای حل آن علاقه مند ساخته است.امروزه کیفیت توان در سیستم قدرت برای مراکز صنعتی،تجاری وکاربردهای بیمارستانی مسئله مهمی می باشد.مشکل ولتاژمثل شرایط افت ولتاژواضافه جریان ناشی از اتصال کوتاه مدار یا وقوع خطا در سیستم بیشتر مورد توجه می باشد. برای مطالعه افت ولتاژ واضافه جریان،محققان زیادی کار کرده ...

15 صفحه اول

the relationship between eq, iq and test format: a study on test fairness

the major aim of this study was to investigate the relationship between iq, eq and test format in the light of test fairness considerations. this study took this relationship into account to see if people with different eq and iq performed differently on different test formats. to this end, 90 advanced learners of english form college of ferdowsi university of mashhad were chosen. they were ask...

15 صفحه اول

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Journal of physics

سال: 2023

ISSN: ['0022-3700', '1747-3721', '0368-3508', '1747-3713']

DOI: https://doi.org/10.1088/1742-6596/2478/9/092008